智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述：智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱
高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域 的測(cè)試設(shè)備，考核和確定電工電子、汽車(chē)部件、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能、使用的適應(yīng)性；該設(shè)備廣泛適用于學(xué)校、工廠(chǎng)、研發(fā)等單位.
產(chǎn)品型號(hào)： TSD-50F-2P
所屬分類(lèi)：冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更新時(shí)間：2024-06-29
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
詳情介紹
智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品概述：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱機(jī)（三箱靜止式）用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在 短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬，塑料，橡膠，電子等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
設(shè)備分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部份，采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做試驗(yàn)時(shí)自動(dòng)打開(kāi)高溫區(qū)與低溫區(qū)的風(fēng)閥從而達(dá)到高溫與低溫的沖擊試驗(yàn)，待測(cè)品為不移動(dòng)之方式。
采用LCD液晶觸摸屏中英文操作控制系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)易，可設(shè)定、顯示各種運(yùn)行數(shù)據(jù)。
高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)， 大時(shí)間可達(dá)999H， 大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)或手動(dòng)性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖、熱沖啟始。
冷卻采用二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
具有RS-232通信接口裝置，可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控、編輯、記錄及信號(hào)點(diǎn)狀態(tài)，使用便捷。
智能瞬間轉(zhuǎn)換冷熱沖擊試驗(yàn)箱
控制系統(tǒng)
主控制器采用進(jìn)中國(guó)臺(tái)灣TT-5166，雙回路高精度液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏，可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)曲線(xiàn)、運(yùn)行時(shí)間、加熱器工作狀態(tài)，PID參數(shù)自整定功能。控制程序的編制采用人機(jī)對(duì)話(huà)方式，僅需設(shè)定溫度，就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)行功能。控制系統(tǒng)具備完善的檢測(cè)裝置能自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。報(bào)警，配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。設(shè)定精度：溫度：0.1℃ 時(shí)間：Is用戶(hù)程序容量：10×99段。運(yùn)行方式：程序運(yùn)行，恒定運(yùn)行。獨(dú)立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時(shí)間累計(jì)計(jì)時(shí)器。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。 溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘。
制冷系統(tǒng)
制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī)：為了保證試驗(yàn)箱降溫速率和zui低溫度的要求，本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)。
壓縮機(jī)采用法國(guó)進(jìn)口全封閉式“泰康”牌壓縮機(jī)或德國(guó)進(jìn)口半封閉式“比澤爾”牌壓縮機(jī)。
冷卻系統(tǒng)
風(fēng)冷式或水冷式冷卻系統(tǒng)。
皓天設(shè)備：冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫沖擊試驗(yàn)箱/三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱/二箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB11158-2008 高溫試驗(yàn)條技術(shù)條件
GB10589-2008 低濁試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（濕度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫IEC 6008-2-1:2007
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫IEC 6008-2-2:2007
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化IEC 60068-2-14:1984
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